Konferenzschrift | Kongress 2009

Zuverlässigkeit und Entwurf : 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart ; mit CD-ROM

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783800731787
Maße
30 cm
Umfang
176 S.
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben

Erschienen in
GMM-Fachbericht / Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik ; 61

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Fehlertoleranz
Testen
Fehlererkennung
Mikroelektronik
Neue Technologie
Zuverlässigkeit
Ausbeute
Testen
Fehlererkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Offenbach
(wer)
VDE-Verl.
(wann)
2009
Beteiligte Personen und Organisationen
Sattler, Sebastian
Tagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2009 : Stuttgart)

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:23 MESZ

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Objekttyp

  • Konferenzschrift
  • Kongress 2009

Beteiligte

  • Sattler, Sebastian
  • Tagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2009 : Stuttgart)
  • VDE-Verl.

Entstanden

  • 2009

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