Phase Transformations Driving Biaxial Stress Reduction During Wake‐Up of Ferroelectric Hafnium Zirconium Oxide Thin Films
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Phase Transformations Driving Biaxial Stress Reduction During Wake‐Up of Ferroelectric Hafnium Zirconium Oxide Thin Films ; day:21 ; month:06 ; year:2024 ; extent:9
Advanced electronic materials ; (21.06.2024) (gesamt 9)
- Urheber
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Jaszewski, Samantha T.
Fields, Shelby S.
Calderon, Sebastian
Aronson, Benjamin L.
Beechem, Thomas E.
Kelley, Kyle P.
Zhang, Casey
Lenox, Megan K.
Brummel, Ian A.
Dickey, Elizabeth C.
Ihlefeld, Jon F.
- DOI
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10.1002/aelm.202400151
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2406221420384.096770406874
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:50 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Jaszewski, Samantha T.
- Fields, Shelby S.
- Calderon, Sebastian
- Aronson, Benjamin L.
- Beechem, Thomas E.
- Kelley, Kyle P.
- Zhang, Casey
- Lenox, Megan K.
- Brummel, Ian A.
- Dickey, Elizabeth C.
- Ihlefeld, Jon F.