Detailed study of electromigration induced damage in Al and AlCuSi interconnects

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: Materials reliability in microelectronics IV : symposium held April 5 - 8, 1994, San Francisco, California, U.S.A. ... / Ed.: Peter Børgesen ... - Pittsburgh, Pa. : Materials Research Soc., 1994. - (Materials Research Society symposium proceedings ; 338), S. 373-378

Classification
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Keyword
Oberflächenschaden ; Elektromigration ; Studie

Event
Veröffentlichung
(where)
Saarbrücken
(who)
Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek
(when)
2008
Contributor
Möckl, U. E.
Bauer, M.
Kraft, Oliver
Sanchez, J. E.
Arzt, Eduard

URN
urn:nbn:de:bsz:291-scidok-17952
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.0440, 1:54 PM CET

Data provider

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  • Möckl, U. E.
  • Bauer, M.
  • Kraft, Oliver
  • Sanchez, J. E.
  • Arzt, Eduard
  • Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek

Time of origin

  • 2008

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