Electromigration failure by shape change of voids in bamboo lines

Digitalisierung: Bayerische Staatsbibliothek

Urheberrechtsschutz

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Standort
München, Bayerische Staatsbibliothek -- 4 Z 53.18-76,3/4#S.1563-1571
Umfang
1 Online-Ressource (S. 1563 - 1571)
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
In: Journal of applied physics, Vol. 104, No. 17, 1996. - Woodbury, NY : American Inst. of Physics

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Woodbury, NY
(wer)
American Inst. of Physics
(wann)
1994
Beteiligte Personen und Organisationen

URN
urn:nbn:de:bvb:12-bsb00086573-2
Letzte Aktualisierung
16.04.2025, 08:14 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 1994

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