Hochschulschrift | Online-Publikation
Improvements in TOF-SIMS instrumentation for analytical application and fundamental research
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2003
- Schlagwort
-
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Flugzeitmassenspektrometrie
Ionenquelle
Sputtern
Tiefenprofilmessung
- Urheber
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:6-85659547784urn:nbn:de:hbz:6-4542
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:30 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
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