Hochschulschrift | Online-Publikation
Improvements in TOF-SIMS instrumentation for analytical application and fundamental research
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2003
- Keyword
-
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Flugzeitmassenspektrometrie
Ionenquelle
Sputtern
Tiefenprofilmessung
- Creator
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:6-85659547784urn:nbn:de:hbz:6-4542
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:45 PM CET
Data provider
This object is provided by:
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Object type
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
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TOF-SIMS in Cosmochemistry
TOF-SIMS-Analysen interplanetarer Staubteilchen
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Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
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Identifizierung pharmakologischer Wirkstoffe mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
Hochauflösende Abbildungen strukturierter organischer Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS)
In-situ-TOF-SIMS- und XPS-Untersuchungen an plasmabehandelten und metallisierten Poymeroberflächen
Abbildende Nanobereichsanalyse mit der Flugzeitmassenspektrometrie zerstäubter Ionen (TOF-SIMS) und Neutralteilchen (Laser-SNMS)
Realisierung der Verfahrenskombination XPS/TOF-SIMS und ihre Anwendung auf Wolframkarbid- und modifizierte Siliziumoberflächen
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