Hochschulschrift

Oberflächenanalyse von Si-Wafern mit der Flugzeit-SIMS

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
25 cm
Extent
II, 120 S.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 1993 (Beschränkt für den Ausstausch)

Keyword
Siliciumhalbleiter
Wafer
Sekundärionen-Massenspektrometrie

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Last update
11.03.2025, 11:46 AM CET

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