Hochschulschrift
Niedrigauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) an einfachen organischen Substanzen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
III, 77 Bl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Heidelberg, Univ., Diss., 1987
- Keyword
-
Sekundärionen-Massenspektroskopie
Organische Verbindungen
Komet
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Organische Verbindungen
Komet
- Creator
-
Zscheeg, Harry
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:51 PM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Zscheeg, Harry
Other Objects (12)
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Struktur der organischen Substanz in Böden und Partikelgrössenfraktionen : Pyrolyse-Gaschromatographie/Massenspektrometrie und Pyrolyse-Feldionisation Massenspektrometrie
Massenspektrometrie in der organischen Chemie
Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) - die Oberfläche wird langsam von Ionen zerstäubt
Reaktionen von lithiumorganischen Verbindungen mit einfachen, halogen- und cyanenthaltenden organischen Substanzen
Temperaturprogrammierte statische Sekundärionen-Massenspektrometrie (TP-SIMS) : Untersuchungen an Polymermonolagen auf Metallsubstraten
Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
(Anwendungen der Massenspektrometrie in der organischen Chemie)
Sekundärionen-Massenspektrometrie an festkörpergestützten monomolekularen organischen Schichten
Untersuchung molekularer Probensysteme mit Hilfe der Flugzeit- und Orbitrap- Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
Elektrochemische Thermospray-Massenspektrometrie [ETMS] in wasserfreien organischen Elektrolyten
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Struktur der organischen Substanz in Böden und Partikelgrössenfraktionen : Pyrolyse-Gaschromatographie/Massenspektrometrie und Pyrolyse-Feldionisation Massenspektrometrie
Massenspektrometrie in der organischen Chemie
Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) - die Oberfläche wird langsam von Ionen zerstäubt
Reaktionen von lithiumorganischen Verbindungen mit einfachen, halogen- und cyanenthaltenden organischen Substanzen
Temperaturprogrammierte statische Sekundärionen-Massenspektrometrie (TP-SIMS) : Untersuchungen an Polymermonolagen auf Metallsubstraten
Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
(Anwendungen der Massenspektrometrie in der organischen Chemie)
Sekundärionen-Massenspektrometrie an festkörpergestützten monomolekularen organischen Schichten
Untersuchung molekularer Probensysteme mit Hilfe der Flugzeit- und Orbitrap- Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
Elektrochemische Thermospray-Massenspektrometrie [ETMS] in wasserfreien organischen Elektrolyten
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Struktur der organischen Substanz in Böden und Partikelgrössenfraktionen : Pyrolyse-Gaschromatographie/Massenspektrometrie und Pyrolyse-Feldionisation Massenspektrometrie
Massenspektrometrie in der organischen Chemie
Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) - die Oberfläche wird langsam von Ionen zerstäubt
Reaktionen von lithiumorganischen Verbindungen mit einfachen, halogen- und cyanenthaltenden organischen Substanzen
Temperaturprogrammierte statische Sekundärionen-Massenspektrometrie (TP-SIMS) : Untersuchungen an Polymermonolagen auf Metallsubstraten
Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
(Anwendungen der Massenspektrometrie in der organischen Chemie)
Sekundärionen-Massenspektrometrie an festkörpergestützten monomolekularen organischen Schichten
Untersuchung molekularer Probensysteme mit Hilfe der Flugzeit- und Orbitrap- Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)