Impact of interface traps on charge noise and low-density transport properties in Ge/SiGe heterostructures
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
1 Online-Ressource.
- Sprache
-
Englisch
- Erschienen in
-
Impact of interface traps on charge noise and low-density transport properties in Ge/SiGe heterostructures ; volume:5 ; number:1 ; day:14 ; month:8 ; year:2024 ; pages:1-10 ; date:12.2024
Communications materials ; 5, Heft 1 (14.8.2024), 1-10, 12.2024
- Urheber
-
Massai, Leonardo
Hetényi, Bence
Mergenthaler, Matthias
Schupp, Felix J.
Sommer, Lisa
Paredes, Stephan
Bedell, Stephen W.
Harvey-Collard, Patrick
Salis, Gian
Fuhrer, Andreas
Hendrickx, Nico W.
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
SpringerLink (Online service)
- DOI
-
10.1038/s43246-024-00563-8
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2411041103585.504803115160
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:25 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Massai, Leonardo
- Hetényi, Bence
- Mergenthaler, Matthias
- Schupp, Felix J.
- Sommer, Lisa
- Paredes, Stephan
- Bedell, Stephen W.
- Harvey-Collard, Patrick
- Salis, Gian
- Fuhrer, Andreas
- Hendrickx, Nico W.
- SpringerLink (Online service)
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