Reliability Assessment and Modeling of High-k Dielectric Thin Films

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Chemnitz, Technische Universität Chemnitz, Dissertation, 2021

Schlagwort
Reliability
Evaluation
Thin films
Zuverlässigkeit
Wechselstrom
Gleichstrom

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Chemnitz
(wer)
Technische Universität Chemnitz
(wann)
2022
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Hiller, Karla
Hiller, Karla
Webber, Kyle G.
Rzepka, Sven

URN
urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa2-783359
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:56 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2022

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