Monografie

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Language
Deutsch
Extent
23 S.
ISBN
978-3-531-03049-4
Identifier
810548674

Series
Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen; Nr. 3049 : Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie

Subject
Organische Verbindung; Massenspektroskopie; Sekundärionenmassenspektrometrie; SIMS; Massenspektrometrie; Organische Verbindungen; Oberfläche; Sekundärionen-Massenspektrometrie

Contributor
Bünau, Günther von
Klöppel, Klaus-Dieter
Nordrhein-Westfalen

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Last update
15.04.2024, 8:51 AM CEST

Object type

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