Monografie
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
- Language
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Deutsch
- Extent
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23 S.
- ISBN
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978-3-531-03049-4
- Identifier
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810548674
- Series
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Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen; Nr. 3049 : Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie
- Table of contents
- Rights
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- Last update
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15.04.2024, 8:51 AM CEST