Investigation of Defect Formation in Monolithic Integrated GaP Islands on Si Nanotip Wafers
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
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In: Electronics, Band 13, Ausgabe 15, 2024
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Berlin
- (who)
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Humboldt-Universität zu Berlin
- (when)
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2024
- Creator
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Häusler, Ines
Řepa, Rostislav
Hammud, Adnan
Skibitzki, Oliver
Hatami, Fariba
- DOI
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10.3390/electronics13152945
- URN
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urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/29875-1
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:54 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Häusler, Ines
- Řepa, Rostislav
- Hammud, Adnan
- Skibitzki, Oliver
- Hatami, Fariba
- Humboldt-Universität zu Berlin
Time of origin
- 2024