Investigation of Defect Formation in Monolithic Integrated GaP Islands on Si Nanotip Wafers

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Electronics, Band 13, Ausgabe 15, 2024

Classification
Elektrotechnik, Elektronik

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Humboldt-Universität zu Berlin
(when)
2024
Creator
Häusler, Ines
Řepa, Rostislav
Hammud, Adnan
Skibitzki, Oliver
Hatami, Fariba

DOI
10.3390/electronics13152945
URN
urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/29875-1
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:54 AM CEST

Data provider

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Associated

  • Häusler, Ines
  • Řepa, Rostislav
  • Hammud, Adnan
  • Skibitzki, Oliver
  • Hatami, Fariba
  • Humboldt-Universität zu Berlin

Time of origin

  • 2024

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