Defect characterization and investigation of RST-silicon ribbon wafers

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: Proceedings of the 28th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU PVSEC 2013) ; Paris, France ; conference 30 September - 04 October 2013. - München : WIP, 2013. - S. 1512-1517. - ISBN 3-936338-33-7
In: 28th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, 30. Sep 2013 - 4. Okt 2013, Paris

Classification
Physik

Event
Veröffentlichung
(where)
Konstanz
(who)
Bibliothek der Universität Konstanz
(when)
2013
Creator
Keller, Philipp
Karzel, Philipp
Moro, Fabrice de
Hahn, Giso
Zuschlag, Annika

URN
urn:nbn:de:bsz:352-252691
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:47 PM CET

Data provider

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Associated

  • Keller, Philipp
  • Karzel, Philipp
  • Moro, Fabrice de
  • Hahn, Giso
  • Zuschlag, Annika
  • Bibliothek der Universität Konstanz

Time of origin

  • 2013

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