Investigation of Defect Formation in Monolithic Integrated GaP Islands on Si Nanotip Wafers

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Electronics, Band 13, Ausgabe 15, 2024

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Humboldt-Universität zu Berlin
(wann)
2024
Urheber
Häusler, Ines
Řepa, Rostislav
Hammud, Adnan
Skibitzki, Oliver
Hatami, Fariba

DOI
10.3390/electronics13152945
URN
urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/29875-1
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:54 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Häusler, Ines
  • Řepa, Rostislav
  • Hammud, Adnan
  • Skibitzki, Oliver
  • Hatami, Fariba
  • Humboldt-Universität zu Berlin

Entstanden

  • 2024

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