Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden
- Alternative title
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The influence of voids on the reliability of solder joints of high power LEDs
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Deutsch
- Notes
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Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2018
- Bibliographic citation
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FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 313
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
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Lötverbindung
Lumineszenzdiode
Zuverlässigkeit
Löten
Computertomografie
Verbindungstechnik
Verbindungstechnik
Lötverbindung
Zuverlässigkeit
Leuchtdioden
Computertomographie
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Erlangen
- (who)
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FAU University Press
- (when)
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2018
- Creator
- Contributor
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Franke, Jörg
Franke, Jörg
Hanke, Randolf
Kaloudis, Michael
Franke, Jörg
Hanenkamp, Nico
Merklein, Marion
Schmidt, Michael
Wartzack, Sandro
- URN
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urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:56 PM CET
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Rauer, Miriam
- Franke, Jörg
- Hanke, Randolf
- Kaloudis, Michael
- Hanenkamp, Nico
- Merklein, Marion
- Schmidt, Michael
- Wartzack, Sandro
- FAU University Press
Time of origin
- 2018