Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden

Alternative title
The influence of voids on the reliability of solder joints of high power LEDs
Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Deutsch
Notes
Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2018

Bibliographic citation
FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 313

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Lötverbindung
Lumineszenzdiode
Zuverlässigkeit
Löten
Computertomografie
Verbindungstechnik
Verbindungstechnik
Lötverbindung
Zuverlässigkeit
Leuchtdioden
Computertomographie

Event
Veröffentlichung
(where)
Erlangen
(who)
FAU University Press
(when)
2018
Creator
Contributor
Franke, Jörg
Franke, Jörg
Hanke, Randolf
Kaloudis, Michael
Franke, Jörg
Hanenkamp, Nico
Merklein, Marion
Schmidt, Michael
Wartzack, Sandro

URN
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:56 PM CET

Data provider

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  • Rauer, Miriam
  • Franke, Jörg
  • Hanke, Randolf
  • Kaloudis, Michael
  • Hanenkamp, Nico
  • Merklein, Marion
  • Schmidt, Michael
  • Wartzack, Sandro
  • FAU University Press

Time of origin

  • 2018

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