Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden
- Weitere Titel
-
The influence of voids on the reliability of solder joints of high power LEDs
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2018
- Erschienen in
-
FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 313
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Lötverbindung
Lumineszenzdiode
Zuverlässigkeit
Löten
Computertomografie
Verbindungstechnik
Verbindungstechnik
Lötverbindung
Zuverlässigkeit
Leuchtdioden
Computertomographie
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Erlangen
- (wer)
-
FAU University Press
- (wann)
-
2018
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Franke, Jörg
Franke, Jörg
Hanke, Randolf
Kaloudis, Michael
Franke, Jörg
Hanenkamp, Nico
Merklein, Marion
Schmidt, Michael
Wartzack, Sandro
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:56 MEZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Rauer, Miriam
- Franke, Jörg
- Hanke, Randolf
- Kaloudis, Michael
- Hanenkamp, Nico
- Merklein, Marion
- Schmidt, Michael
- Wartzack, Sandro
- FAU University Press
Entstanden
- 2018
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