Konferenzschrift | Kongress

Advances in pattern recognition : proceedings ; joint IAPR international workshops

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540679462
3540679464
Maße
24 cm
Umfang
XVIII, 901 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Erschienen in
Lecture notes in computer science ; Vol. 1876

Schlagwort
Mustererkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Hong Kong, London, Milan, Paris, Singapore, Tokyo
(wer)
Springer
(wann)
2000
Beteiligte Personen und Organisationen
Ferri, Francesc J.
International Association for Pattern Recognition
SSPR (8 : 2000 : Alicante)

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2024, 14:07 MESZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Konferenzschrift
  • Kongress

Beteiligte

Entstanden

  • 2000

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