Konferenzschrift | Kongress

Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop ; proceedings

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783642341656
3642341659
Maße
24 cm
Umfang
XVII, 755 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Erschienen in
Lecture notes in computer science ; 7626

Schlagwort
Mustererkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg
(wer)
Springer
(wann)
2012
Beteiligte Personen und Organisationen
Gimel'farb, Georgy
Hancock, Edwin R.
Imiya, Atsushi
Kuijper, Arjan
Kudo, Mineichi
Omachi, Shinichiro
Windeatt, Terry
Yamada, Keiji
International Association for Pattern Recognition
SSPR (14 : 2012 : Hiroshima)

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:15 MESZ

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Objekttyp

  • Konferenzschrift
  • Kongress

Beteiligte

Entstanden

  • 2012

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