Konferenzschrift | Kongress

Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop ; proceedings

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540896883
Maße
24 cm
Umfang
XXIII, 1011 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Erschienen in
Lecture notes in computer science ; 5342

Schlagwort
Mustererkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg, New York, NY
(wer)
Springer
(wann)
2008
Beteiligte Personen und Organisationen
Lobo, Niels da Vitoria
International Association for Pattern Recognition
SSPR (12 : 2008 : Orlando, Fla.)

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:58 MESZ

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Objekttyp

  • Konferenzschrift
  • Kongress

Beteiligte

Entstanden

  • 2008

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