Konferenzschrift | Kongress

Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop ; proceedings

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783662444146
3662444143
Maße
24 cm
Umfang
XIX, 478 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Erschienen in
Lecture notes in computer science ; 8621

Schlagwort
Mustererkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Heidelberg, New York, NY, Dordrecht, London, Berlin
(wer)
Springer
(wann)
2014
Beteiligte Personen und Organisationen
Fränti, Pasi
Brown, Gavin
Loog, Marco
Escolano, Francisco
Pelillo, Marcello
International Association for Pattern Recognition
S+SSPR (2014 : Joensuu)

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:35 MESZ

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Objekttyp

  • Konferenzschrift
  • Kongress

Beteiligte

Entstanden

  • 2014

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