Konferenzschrift | Kongress
Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop ; proceedings
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783662444146
3662444143
- Maße
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24 cm
- Umfang
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XIX, 478 S.
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Literaturangaben
- Erschienen in
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Lecture notes in computer science ; 8621
- Schlagwort
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Mustererkennung
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Heidelberg, New York, NY, Dordrecht, London, Berlin
- (wer)
-
Springer
- (wann)
-
2014
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Fränti, Pasi
Brown, Gavin
Loog, Marco
Escolano, Francisco
Pelillo, Marcello
International Association for Pattern Recognition
S+SSPR (2014 : Joensuu)
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:35 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Konferenzschrift
- Kongress
Beteiligte
- Fränti, Pasi
- Brown, Gavin
- Loog, Marco
- Escolano, Francisco
- Pelillo, Marcello
- International Association for Pattern Recognition
- S+SSPR (2014 : Joensuu)
- Springer
Entstanden
- 2014