Konferenzschrift | Kongress

Advances in pattern recognition : second international conference

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540417675
3540417672
Maße
24 cm
Umfang
XIV, 476 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Erschienen in
Lecture notes in computer science ; Vol. 2013

Schlagwort
Mustererkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Hong Kong, London, Milan, Paris, Singapore, Tokyo
(wer)
Springer
(wann)
2001
Beteiligte Personen und Organisationen
Singh, Sameer
ICAPR (2 : 2001 : Rio de Janeiro)

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:20 MESZ

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Objekttyp

  • Konferenzschrift
  • Kongress

Beteiligte

Entstanden

  • 2001

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