Hochschulschrift
DLTS-Untersuchung an tiefen Störstellen zur Einstellung der Trägerlebensdauer in Si-Leistungshalbleiterbauelementen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
III, 172 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Berlin, Techn. Univ., Diss., 1994
- Keyword
-
Leistungshalbleiter
Siliciumbauelement
DLTS
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.03.2025, 12:30 PM CET
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Object type
- Hochschulschrift
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