Hochschulschrift
Kapazitätstransienten-Untersuchungen an tiefen Störstellen in Silizium
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
116 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
36 graph. Darst.
Stuttgart, Univ., Diss., 1982
- Schlagwort
-
Störstelle
Silizium
Störstelle
Silicium
- Urheber
-
Wünstel, Klaus
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:51 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Wünstel, Klaus
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