Hochschulschrift

Erweiterungen der Scatterometrie zur modellbasierten optischen Nanometrologie von Halbleiterstrukturen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783923560998
Dimensions
21 cm
Extent
133 Seiten
Language
Deutsch
Notes
Illustrationen, Diagramme
Universität Stuttgart, Dissertation, 2019

Bibliographic citation
Berichte aus dem Institut für Technische Optik / Universität Stuttgart ; Nr. 100

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Physik

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Institut für Technische Optik, Universität Stuttgart
(when)
2019
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Last update
11.06.2025, 1:59 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 2019

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