Hochschulschrift

Erweiterungen der Scatterometrie zur modellbasierten optischen Nanometrologie von Halbleiterstrukturen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783923560998
Maße
21 cm
Umfang
133 Seiten
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Illustrationen, Diagramme
Universität Stuttgart, Dissertation, 2019

Erschienen in
Berichte aus dem Institut für Technische Optik / Universität Stuttgart ; Nr. 100

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Physik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Institut für Technische Optik, Universität Stuttgart
(wann)
2019
Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:59 MESZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2019

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