Hot-carrier degradation at avalanche breakdown: microscopic simulation of power MOSFETs
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
RWTH Aachen University, Dissertation, 2017
- Klassifikation
-
Physik
- Schlagwort
-
Drift
Mathematical notation
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Aachen
- (wer)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (wann)
-
2017
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- DOI
-
10.18154/RWTH-2017-10706
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2018071111001536929864
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:24 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Jabs, Dominic
- Jungemann, Christoph
- Grasser, Tibor
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Entstanden
- 2017