Hot-carrier degradation at avalanche breakdown: microscopic simulation of power MOSFETs

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
RWTH Aachen University, Dissertation, 2017

Klassifikation
Physik
Schlagwort
Drift
Mathematical notation

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Aachen
(wer)
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
(wann)
2017
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Jungemann, Christoph
Grasser, Tibor

DOI
10.18154/RWTH-2017-10706
URN
urn:nbn:de:101:1-2018071111001536929864
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:24 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2017

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