Hochschulschrift

Modellierung und Testverfahren für CMOS-kompatible Fluxgatesensoren mit planaren weichmagnetischen Kernen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
31 cm
Umfang
150, 6, 5 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Duisburg, Univ., Diss., 1999 (Nicht für den Austausch)

Schlagwort
Integrierter Sensor
Mikrosensor
Saturationskernmagnetometer
Spule
Weichmagnetischer Werkstoff
CMOS

Urheber
Wende, Ulrich

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:04 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Wende, Ulrich

Ähnliche Objekte (12)