Hochschulschrift
Modellierung und Testverfahren für CMOS-kompatible Fluxgatesensoren mit planaren weichmagnetischen Kernen
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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31 cm
- Extent
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150, 6, 5 S.
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Duisburg, Univ., Diss., 1999 (Nicht für den Austausch)
- Keyword
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Integrierter Sensor
Mikrosensor
Saturationskernmagnetometer
Spule
Weichmagnetischer Werkstoff
CMOS
- Creator
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Wende, Ulrich
- Table of contents
- Rights
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- Last update
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11.06.2025, 2:04 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Wende, Ulrich