Hochschulschrift | Online-Publikation
Development of a traceable atomic force microscope with interferometer and compensation flexure stage
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Ilmenau, Techn. Univ., Diss., 2003
- Klassifikation
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Physik
- Schlagwort
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Rasterkraftmikroskop
Kalibrieren
Laserinterferometer
Rasterkraftmikroskop
Kalibrieren
Laserinterferometer
Kraftmikroskopie
- Urheber
- URN
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urn:nbn:de:gbv:ilm1-2003000015
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:52 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation