Hochschulschrift | Online-Publikation

Development of a traceable atomic force microscope with interferometer and compensation flexure stage

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ilmenau, Techn. Univ., Diss., 2003

Klassifikation
Physik
Schlagwort
Rasterkraftmikroskop
Kalibrieren
Laserinterferometer
Rasterkraftmikroskop
Kalibrieren
Laserinterferometer
Kraftmikroskopie

Urheber

URN
urn:nbn:de:gbv:ilm1-2003000015
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:52 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift
  • Online-Publikation

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