Hochschulschrift

Symbolic methods for testing digital circuits

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
196 S.
Language
Englisch
Notes
graph. Darst.
Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2003 (Nur beschränkt für den Austausch)

Classification
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Informatik
Keyword
Logische Schaltung
Testmuster
OBDD
Testen ; Datenstruktur ; Binäres Entscheidungsdiagramm ; Entscheidungsgraph ; OBDD ; Logische Schaltung ; Halbleiterschaltung ; Testmuster

Creator
Keim, Martin

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Rights
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Last update
11.03.2025, 12:05 PM CET

Data provider

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Keim, Martin

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