Hochschulschrift | Online-Publikation
Symbolic methods for testing digital circuits
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2003
- Klassifikation
-
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Informatik
- Schlagwort
-
Logische Schaltung
Testmuster
OBDD
Testen ; Datenstruktur ; Binäres Entscheidungsdiagramm ; Entscheidungsgraph ; OBDD ; Logische Schaltung ; Halbleiterschaltung ; Testmuster
- Urheber
-
Keim, Martin
- URN
-
urn:nbn:de:bsz:25-opus-12489
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:53 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
Beteiligte
- Keim, Martin
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