Hochschulschrift

Symbolic methods for testing digital circuits

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
196 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
graph. Darst.
Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2003 (Nur beschränkt für den Austausch)

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Informatik
Schlagwort
Logische Schaltung
Testmuster
OBDD
Testen ; Datenstruktur ; Binäres Entscheidungsdiagramm ; Entscheidungsgraph ; OBDD ; Logische Schaltung ; Halbleiterschaltung ; Testmuster

Urheber
Keim, Martin

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:05 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Keim, Martin

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