- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
196 S.
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2003 (Nur beschränkt für den Austausch)
- Klassifikation
-
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Informatik
- Schlagwort
-
Logische Schaltung
Testmuster
OBDD
Testen ; Datenstruktur ; Binäres Entscheidungsdiagramm ; Entscheidungsgraph ; OBDD ; Logische Schaltung ; Halbleiterschaltung ; Testmuster
- Urheber
-
Keim, Martin
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:05 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Keim, Martin
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