- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
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30 cm
- Umfang
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196 S.
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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graph. Darst.
Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2003 (Nur beschränkt für den Austausch)
- Klassifikation
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Informatik
- Schlagwort
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Logische Schaltung
Testmuster
OBDD
Testen ; Datenstruktur ; Binäres Entscheidungsdiagramm ; Entscheidungsgraph ; OBDD ; Logische Schaltung ; Halbleiterschaltung ; Testmuster
- Urheber
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Keim, Martin
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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11.03.2025, 12:05 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Keim, Martin