Classification of defective regions in p-type multicrystalline silicon by comparing luminescence images measured under different conditions
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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In: Krain, R.; Beljakova, S.; Herlufsen, S.; Krieger, M.; Schmidt, J.: Classification of defective regions in p-type multicrystalline silicon by comparing luminescence images measured under different conditions. In: Energy Procedia 38 (2013), S. 101-107. DOI: https://doi.org/10.1016/j.egypro.2013.07.255
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Hannover
- (wer)
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Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- (wann)
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2013
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
-
Hannover
- (wer)
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Technische Informationsbibliothek (TIB)
- (wann)
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2013
- Urheber
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Krain, Rafael
Beljakova, Svetlana
Herlufsen, Sandra
Krieger, Michael
Schmidt, Jan
- DOI
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10.15488/4041
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2020081207293993976726
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:58 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Krain, Rafael
- Beljakova, Svetlana
- Herlufsen, Sandra
- Krieger, Michael
- Schmidt, Jan
- Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- Technische Informationsbibliothek (TIB)
Entstanden
- 2013