Classification of defective regions in p-type multicrystalline silicon by comparing luminescence images measured under different conditions
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
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In: Krain, R.; Beljakova, S.; Herlufsen, S.; Krieger, M.; Schmidt, J.: Classification of defective regions in p-type multicrystalline silicon by comparing luminescence images measured under different conditions. In: Energy Procedia 38 (2013), S. 101-107. DOI: https://doi.org/10.1016/j.egypro.2013.07.255
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Hannover
- (who)
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Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- (when)
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2013
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Hannover
- (who)
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Technische Informationsbibliothek (TIB)
- (when)
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2013
- Creator
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Krain, Rafael
Beljakova, Svetlana
Herlufsen, Sandra
Krieger, Michael
Schmidt, Jan
- DOI
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10.15488/4041
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2020081207293993976726
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:58 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Krain, Rafael
- Beljakova, Svetlana
- Herlufsen, Sandra
- Krieger, Michael
- Schmidt, Jan
- Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- Technische Informationsbibliothek (TIB)
Time of origin
- 2013