Classification of defective regions in p-type multicrystalline silicon by comparing luminescence images measured under different conditions

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Krain, R.; Beljakova, S.; Herlufsen, S.; Krieger, M.; Schmidt, J.: Classification of defective regions in p-type multicrystalline silicon by comparing luminescence images measured under different conditions. In: Energy Procedia 38 (2013), S. 101-107. DOI: https://doi.org/10.1016/j.egypro.2013.07.255

Event
Veröffentlichung
(where)
Hannover
(who)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(when)
2013
Event
Veröffentlichung
(where)
Hannover
(who)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(when)
2013
Creator
Krain, Rafael
Beljakova, Svetlana
Herlufsen, Sandra
Krieger, Michael
Schmidt, Jan

DOI
10.15488/4041
URN
urn:nbn:de:101:1-2020081207293993976726
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:58 AM CEST

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Associated

  • Krain, Rafael
  • Beljakova, Svetlana
  • Herlufsen, Sandra
  • Krieger, Michael
  • Schmidt, Jan
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Time of origin

  • 2013

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