Submicron contacts for electrical characterization of semiconducting WS2 thin films
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Erschienen in
-
In: Journal of Vacuum Science and Technology / A, Vacuum, Surfaces, and Films ; 16 (1998), 3. - S. 1239-1243
- Klassifikation
-
Physik
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Konstanz
- (wer)
-
Bibliothek der Universität Konstanz
- (wann)
-
2007
- Urheber
-
Ballif, Christophe
Regula, Manfred
Lévy, Francis
Burmeister, Frank
Schäfle, Claudia
Matthes, Thomas
Leiderer, Paul
Niedermann, Philippe
Gutmannsbauer, W.
Bucher, Ron
- URN
-
urn:nbn:de:bsz:352-opus-28915
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:51 MEZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Ballif, Christophe
- Regula, Manfred
- Lévy, Francis
- Burmeister, Frank
- Schäfle, Claudia
- Matthes, Thomas
- Leiderer, Paul
- Niedermann, Philippe
- Gutmannsbauer, W.
- Bucher, Ron
- Bibliothek der Universität Konstanz
Entstanden
- 2007
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