Deconvoluting charge trapping and nucleation interplay in FeFETs : Kinetics and Reliability
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
In: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM). San Francisco, 01.-05.12.2018
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Dresden
- (wer)
-
Technische Universität Dresden
- (wann)
-
2021
- Urheber
- URN
-
urn:nbn:de:bsz:14-qucosa2-768890
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:21 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Pesic, Milan
- Padovani, Andrea
- Slesazeck, Stefan
- Mikolajick, Thomas
- Larcher, Luca
- Technische Universität Dresden
Entstanden
- 2021
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