CD-ROM | Konferenzschrift | Kongress 2013

Zuverlässigkeit und Entwurf : 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung vom 24. bis 26. September 2013 in Dresden ; mit CD-ROM

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783800735396
Maße
30 cm
Umfang
114 S.
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben

Erschienen in
ITG-Fachbericht / Informationstechnische Gesellschaft ; 244

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Entwurfsautomation
Eingebettetes System
Dreidimensionale Integration
Zuverlässigkeit
Alterung
Debugging
Fehlertoleranz
Ausbeute
Mikrosystemtechnik
Entwurfsautomation
Eingebettetes System
Dreidimensionale Integration
Zuverlässigkeit
Alterung
Debugging
Fehlertoleranz
Ausbeute
Mikrosystemtechnik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Offenbach
(wer)
VDE-Verl.
(wann)
2013
Beteiligte Personen und Organisationen
Dietrich, Manfred
VDE/VDI-Gesellschaft Microelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)
Gesellschaft für Informatik (GI)
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2013 : Dresden)

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:20 MEZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • CD-ROM
  • Konferenzschrift
  • Kongress 2013

Beteiligte

  • Dietrich, Manfred
  • VDE/VDI-Gesellschaft Microelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
  • Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)
  • Gesellschaft für Informatik (GI)
  • Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf (2013 : Dresden)
  • VDE-Verl.

Entstanden

  • 2013

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