Recombination and Charge Collection at Nickel Silicide Precipitates in Silicon Studied by Electron Beam‐Induced Current

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
Recombination and Charge Collection at Nickel Silicide Precipitates in Silicon Studied by Electron Beam‐Induced Current ; day:08 ; month:07 ; year:2021 ; extent:8
Physica status solidi / B. B, Basic solid state physics ; (08.07.2021) (gesamt 8)

Urheber
Saring, Philipp
Seibt, Michael

DOI
10.1002/pssb.202100142
URN
urn:nbn:de:101:1-2021070915092054437829
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:46 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

  • Saring, Philipp
  • Seibt, Michael

Ähnliche Objekte (12)