Hochschulschrift
Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-SiO2
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783897122369
3897122367
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
112 S.
- Ausgabe
-
1. Aufl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Göttingen, Univ., Diss., 1998
- Schlagwort
-
Silicium
Kristallfläche
Germanium
Amorpher Halbleiter
Durchstrahlungselektronenmikroskop
Silicium
Kristallfläche
Siliciumdioxid
Amorpher Halbleiter
Durchstrahlungselektronenmikroskop
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:43 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Plikat, Boris
- Cuvillier
Entstanden
- 1998
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