Hochschulschrift

Untersuchungen der inneren Grenzflächen des Si-SiC-Systems

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783898205351
3898205355
Maße
21 cm
Umfang
143 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Augsburg, Univ., Diss., 2003

Klassifikation
Physik
Schlagwort
Siliciumcarbid
Heteroepitaxie
Silicium
Halbleitersubstrat
Grenzfläche
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Siliciumcarbid
Vergrabene Schicht
Ionenimplantation

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Mensch-und-Buch-Verl.
(wann)
2003
Urheber

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:46 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2003

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