Monografie
Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
-
Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2002
- Identifier
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96419743X
Thema
Quarz ; Mikrokristall ; Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Hochschulschrift; Online-Publikation
Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
26.01.2023, 13:56 MEZ
Objekttyp
- Monografie
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