Hochschulschrift
Hochauflösende Elektronenspektroskopie an Si-, Ge- und GaAs-Oberflächen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
57, 21 S.
- Edition
-
Als Ms. gedr.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
21 graph. Darst.;
Zugleich: Aachen, Techn. Hochsch., Math.- Naturwiss. Fak., Diss. 1975.
- Bibliographic citation
-
Berichte der Kernforschungsanlage Jülich / Kernforschungsanlage Jülich des Landes Nordrhein-Westfalen ; Nr. 1179 : Inst. f. Grenzflächenforschung u. Vakuumphysik
- Keyword
-
Elektronenspektroskopie
Kristalloberfläche
Silizium
Germanium
Galliumarsenid
Elektronenspektrometrie
Oberflächenchemie
Elektronenspektroskopie
Kristalloberfläche
Silicium
Germanium
Galliumarsenid
Elektronenspektrometer
Oberflächenchemie
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Jülich
- (who)
-
Zentralbibliothek d. Kernforschungsanlage Jülich GmbH
- (when)
-
1975
- Creator
- Contributor
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 12:29 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Froitzheim, Hermann
- Kernforschungsanlage Jülich
- Zentralbibliothek d. Kernforschungsanlage Jülich GmbH
Time of origin
- 1975
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