Hochschulschrift
A Simulation analysis to improve the dielectric strength inside High Voltage Vacuum Interrupters
- Weitere Titel
-
Simulationsanalyse zur Verbesserung der dielektrischen Festigkeit im Inneren von Hochspannungs-Vakuumschaltröhren
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg, Dissertation, 2015
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Vakuumschalter
Hochspannungsschalter
Durchschlagsfestigkeit
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Cottbus
- (wer)
-
BTU Cottbus - Senftenberg
- (wann)
-
2015
- Urheber
-
Venna, Karthik Reddy
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Schwarz, Harald
Schramm, Heinz-Helmut
- URN
-
urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-33551
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:51 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Venna, Karthik Reddy
- Schwarz, Harald
- Schramm, Heinz-Helmut
- BTU Cottbus - Senftenberg
Entstanden
- 2015