Hochschulschrift
In-situ-Charakterisierung und Ladungsträgerkinetik amorpher Halbleiter auf Silicium-Basis
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
II, 145 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Berlin, Techn. Univ., Diss., 1996
- Keyword
-
Silicium
Amorpher Halbleiter
PECVD-Verfahren
Ladungsträgerbeweglichkeit
- Creator
-
Swiatkowski, Carsten
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
2025-06-11T13:42:37+0200
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Swiatkowski, Carsten
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