Hochschulschrift
Monitoring Concepts for Degradation Effects in Digital CMOS Circuits
- Weitere Titel
-
Überwachungskonzepte für Alterungseffekte in digitalen CMOS Schaltungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
München, Technische Universität München, Diss., 2015
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
München
- (wer)
-
Universitätsbibliothek der TU München
- (wann)
-
2015
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:91-diss-20150729-1241463-1-6
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:53 MEZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Pour Aryan, Nasim
- Schmitt-Landsiedel, Doris
- Stechele, Walter
- Universitätsbibliothek der TU München
Entstanden
- 2015
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