- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Dissertation, 2022
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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Zuverlässigkeit
Degradation
CMOS
Schaltungsentwurf
MOS-FET
Entwurfsautomation
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Karlsruhe
- (wer)
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KIT-Bibliothek
- (wann)
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2023
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Henkel, Jörg
Amrouch, Hussam
Schlichtmann, Ulf
- DOI
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10.5445/IR/1000158506
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2023052405002040095038
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 11:01 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Van Santen, Victor
- Henkel, Jörg
- Amrouch, Hussam
- Schlichtmann, Ulf
- KIT-Bibliothek
Entstanden
- 2023