Hochschulschrift

Auswirkungen einer Plasmabehandlung auf die Eigenschaften des Niedertemperatur-Waferbondens monokristalliner Siliziumoberflächen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
VII, 107, IX S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph Darst.
Halle, Wittenberg, Univ., Diss., 2001

Schlagwort
Silicium
Kristallfläche
Oberflächenbehandlung
Plasmatechnik
Silicium
Wafer
Bonden
Oberflächeneigenschaft

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:39 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

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