Hochschulschrift | Online-Publikation

A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2004

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Mixed-Signal-Schaltung
Built-in self test
Mixed-Signal-Schaltung
Analog-Digital-Umsetzer
Digital-Analog-Umsetzer
Testbarkeit
ADC DAC Mixed-Signal Schaltungen Test BIST

Urheber

URN
urn:nbn:de:bvb:29-opus-1036
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:41 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift
  • Online-Publikation

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