Hochschulschrift
Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Duisburg, Univ., Diss., 2001
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Integrierter Sensor
CMOS-Schaltung
Selbsttest
Korrektur
Fehlertoleranz
Degradation
- Urheber
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:464-20061017-113835-2
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:53 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
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