Space charge layer effects in silicon studied by in situ surface transport

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Edler, Frederik; Miccoli, Ilio; Pfnür, Herbert; Tegenkamp, Christoph: Space charge layer effects in silicon studied by in situ surface transport. In: Journal of Physics Condensed Matter 31 (2019), Nr. 21, 214001. DOI: https://doi.org/10.1088/1361-648X/ab094e

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2019
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2019
Urheber
Edler, Frederik
Miccoli, Ilio
Pfnür, Herbert
Tegenkamp, Christoph

DOI
10.15488/10237
URN
urn:nbn:de:101:1-2020121001104549038060
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:33 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Edler, Frederik
  • Miccoli, Ilio
  • Pfnür, Herbert
  • Tegenkamp, Christoph
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2019

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