Grain boundary segregation in multicrystalline silicon studied by correlative microscopy
- Alternative title
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Korngrenzensegregation in multikristallinem Silizium
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Notes
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RWTH Aachen University, Dissertation, 2017
- Classification
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Physik
- Keyword
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Segregation
Microscopy
Grain
Silicon
Scanning transmission electron microscopy
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Aachen
- (who)
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Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (when)
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2017
- Creator
- Contributor
- DOI
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10.18154/RWTH-2017-06812
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2018062607020942015917
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:41 PM CET
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Stoffers, Andreas
- Raabe, Dierk
- Mayer, Joachim
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Time of origin
- 2017